C-Scan
C-Scan
De ultrasone systemen worden in de Mistras Holding geproduceerd door onze collega’s van NDT Automation.
We leveren complete C-Scan en Squirter systemen en upgrades. Ook ontwerpen en produceren we in-house het grootste gedeelte van de NDT Automation ultrasone (pulser/ontvanger en analoog naar digitaal converter) kaarten. Door gebruik van state-of-the-art technologieën, zijn NDT Automation ultrasone kaarten beschikbaar voor OEM toepassingen en worden ze gebruikt in onze eigen NDT Automation ultrasone inspectie systeem toepassingen. De UT-kaarten zijn alle volgens het PCI-bus principe en hebben een werkgebied van 100 MHz tot 1 GHz sampling rates.
We leveren complete C-Scan en Squirter systemen en upgrades. Ook ontwerpen en produceren we in-house het grootste gedeelte van de NDT Automation ultrasone (pulser/ontvanger en analoog naar digitaal converter) kaarten. Door gebruik van state-of-the-art technologieën, zijn NDT Automation ultrasone kaarten beschikbaar voor OEM toepassingen en worden ze gebruikt in onze eigen NDT Automation ultrasone inspectie systeem toepassingen. De UT-kaarten zijn alle volgens het PCI-bus principe en hebben een werkgebied van 100 MHz tot 1 GHz sampling rates.
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
UTWIN™ Software
UTWIN is software speciaal ontworpen voor ultrasone metingen en aansluitende analyse. Het is eenvoudig in het gebruik met handige analyse ‘gereedschappen’. Tijdens meting mogelijk A-scan, B-scan en C-scan te tonen. UTWIN is er voor WINDOWS 98, 2000, XP pro, Vista.
Test parameter setup o.a. :
- Pulser & receiver setup met DAC, AGC
- Echo mode of True Transmission
- 4 onafhankelijke gates met detectie strategie en feature extraction:
Amplitude, Time of flight, Energie, Dikte, Rise time, correlation, snelheid... - Scan gebied C-SCAN & B-SCAN
Post-Analysis met o.a. :
- Replay A-SCAN, B-SCAN, C-SCAN met gebruik van alle data in de gates, FFT in gates
- Enkelvoudige of dubbele cursors
- Zoom
- Image filter
- Kleurpallet
- Minimum; lokatie en dikte
- STATISTIC analyse (optie) in gehele scan of in selectie
- CLUSTER analyse (optie): bepalen gebieden met warden, weergeven oppervlak en lokatie
- SURFACE analyse, maximum detectie, signaal tot ruis verhouding